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  • 来源:创业找项目
  • 时间:2018-05-06
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  • 篇一:LED专用测试仪器

    LED专用测试仪器

    LED测试仪主要有LED电性能测试仪、LED光通量测试仪、LED光强仪(也称LED光强分布测试仪)、LED光谱分布系统(LED

    光谱分析仪),LED光色电测试仪,LED老化仪,大功率LED测试仪。LED测试仪主要用于测量LED的正反向电性能、光通量、光强、角度、波长、色温、色坐标、显色性(也称显色指数)、光衰等参数。

    高性能的LED标准校准源主要用于校准LED光度、色度和辐射度仪器,是LED发光特性准确测量的基础。

    LED101 LED标准校准源,采用半导体精密制冷技术,直接测量并控制LED

    PN 结温度,并精密恒流驱动,因此具有极高的输出稳定性及复现性。

    测试精度和测试速度的完美结合。HAAS-2000采用世界最先进的平场衍射光栅和日本HAMAMATSU科学级CCD可同时实现毫秒级的测试速度和实验室级的测试精度。

    配合LED300E可编程LED测试电源可实现脉冲式LED光色参数测量。

    PMS-80是远方公司十多年单色仪光谱仪研究制造经验与现代技术相结合的产物,该新型光谱仪在保持与传统单色仪光谱仪相同精度的同时,测量速度大大提高。采用远方专利Sync-Skan快速采扫同步技术,380-800nm间

    的光谱只需数秒即可完成,远远快于传统机械扫描单单色仪光谱仪几分种测量时间。

    PMS-50属单单色仪光谱仪,系统成熟、可靠,灵敏度及精度高,采用分光积分结合于一体的专利, 既解决了全光谱法存在的动态范围小、线性差的缺点,又解决了纯积分法存在的异谱误差相对较大的缺点。

    STC4000是一个紧凑型多通道CCD光谱仪,测量速度快,性价比高,适用于测试速度要求高的场合;快速测量LED的相对光谱功率分布、色品坐标、相关色温、显色指数、色容差、光谱半宽度、主波长、色纯度、光通

    量、光辐射功率、光效、正反向电性能等参数。

    用于测量红外发光二极管LED的相对光谱功率分布、峰值波长、半宽度、辐射功率、电压电流参数。该系统为国内众多LED科研机构、院校、高端客户的质检及工程分析提供有力的保证。

    用于测量紫外发光二极管LED的相对光谱功率分布、峰值波长、半宽度、辐射功率、电压电流参数。该系统为国内众多LED科研机构、院校、高端客户的质检及工程分析提供有力的保证。

    用于测量多晶LED的相对光谱功率分布、峰值波长、半宽度、辐射功率、电压电流参数。提供多路LED供电电源,同时测量单晶、双晶、三晶LED光色测量。

    配有多晶LED专用的三路稳流稳压全数控电源。

    LED可自动沿水平轴和竖直轴自动转动,自动绘制三维光强分布图、配光曲线、自动测定光束角及正反向电性能,内置恒流源。受光面尺寸1cm2标准级(CIE Class A)光度探测器,完全符合最新ISO/CIE国际标准要求。

    精密LED机械定位装置,精密一体化设计中心对准系统,测试条件符合CIE pub.No.127条件A或条件B。

    LED可自动沿竖直轴自动转动,沿水平轴手动转动,自动绘制三维光强分布图、自动测定光束角及正反向电性能,内置恒流源。

    受光面尺寸1cm2标准级(CIE Class A)光度探测器,完全符合最新ISO/CIE

    国际标准要求。

    精密LED机械定位装置,精密一体化设计中心对准系统,测试条件完全符合CIE pub.No.127条件A或B。

    专用于LED光强和光强分布曲线(配光曲线)(极坐标或直角坐标)的快速配光测量。LED绕水平轴自动旋转和竖直轴手动旋转,绘制三维空间光强分布曲线、自动测定光束角及正反向电性能参数,内置恒流源。仪器采

    用国家一级(CIE Class B)光度探头及精密LED机械定位装置,精密一体化设计中心对准系统,完全符合CIE pub.No.127条件A或B。

    用于测量LED各角度的光强值及电性能,内置恒流源,并可以根据用户设定的限值进行光强分级。操作方便、显示直观,符合CIE pub.No.127条件A或B,适合LED光强快速测试、筛选分级和质量控制。

    主要用于生产线LED光强值(mcd或cd)、光束角及正反向电性能参数的快速人工测量,LED可沿水平轴和竖直轴手动转动,内置恒流源,测试条件完全符合CIE条件A或CIE条件B,采用国家一级(Class B)高灵敏度

    光度探头,并可以根据用户设定的限值进行光强分级。

    测量LED热阻、LED结温、热校准系数以及LED电性能数的分析测量,具有测量精度高、响应速度快等特点。满足国标GB/T4023-1997、部标SJ 20788-2000、美军标MIL-STD-750D、国际JEDEC JESD 51、部标QB/T

    XXXX-2008普通照明用发光二极管性能要求(送审稿)等国际和我国最新制定的标准要求。

    集色参数、光度参数、电参数、结温热阻测试功能于一体,可同时实现LED在不同温度或工作电流下的瞬态和稳态参数的测量。测试功能强大、软件功能丰富、测试精度高,满足科研及质检机构、工程分析等不同客户

    的需求。

    采用电流、频率、占空比、老化时间均智能可调的6组独立恒流电源对60个不同工位LED进行单独老化。

    可同时实现额定参数的常规老化试验和过载冲击加速老化试验

    内置微电脑控制,具有可靠性好、调节方便、使用寿命长的优点。

    采用电流、频率、占空比、老化时间均智能可调的6组独立恒流电源对480个不同工位LED进行单独老化。

    可同时实现额定参数的常规老化试验和过载冲击加速老化试验。

    内置微电脑控制,具有可靠性好、调节方便、使用寿命长的优点。

    用于对单颗LED灯及LED模组进行老化筛选试验、可靠性和寿命加速试验、高低温下的光电参数的测试。60 工位老炼、壳温及光参数的实时检测,用国际最新寿命测量标准预测LED可靠性和寿命。

    用于对LED灯及LED灯具进行老化筛选试验、可靠性和寿命加速试验、高低温下的光色变化曲线的测试。多工位老炼、壳温及光参数的实时检测。

    本系统主要根据IEC 62471-2006/CIE S009:2002、GB/T 20145-2006、IEC60825-1:2007、等标准要求等标准要求设计而成,满足62471等标准的测试要求。用于LED单颗封装、LED模组、LED灯、LED灯具的视网膜蓝

    光危害、视网膜热危害等辐射安全测试。

    测量荧光材料激发光谱特性有利于筛选高效的激发光源,或者在激发光源特定的前提下,改进荧光材料的激发光谱特性,以实现更高的激发-发光转换效率,测量荧光材料在真实工作状态(高温状态)下的发光特性(热

    猝灭特性),避免用其常温特性来代替真实的工作状态,确保荧光材料发光质量。

    HAAS-2000或PMS-80或PMS-50与LED荧光粉激发装置、标定系统等组成LED荧光粉光色测试系统。该系统经过专业配置可以测量白光LED中的黄色YAG荧光粉的光色测量,满足国际照明委员会CIE对光和颜色测量

    要求。远方公司是LED荧光粉、三基色荧光粉测试方法国家标准起草单位,本系统测量方法为国家标准方法所推荐。

    JY2003相对亮度测试仪与PE-5荧光粉激发装置配合使用,用于测试荧光粉相对亮度,测量范围宽,稳定度高,线性好。 配前置放大LED荧光粉专用的高灵敏度探测器,V(λ)探测器修正达到国家标准级(CIE CLASSA)

    水平。

    可用于测量相对光谱功率分布,色品坐标,主波长,峰值波长,光谱纯度,色温,显色指数,半宽度,光通量,辐射功率,红色比,色容差、正向电压、正向电流、反向电压、反向电流等参数。

    篇二:光通量的定义

    光通量

    科技名词定义

    中文名称:

    光通量 英文名称:

    luminous flux

    定义:

    发光强度为1的光源在立体角元内发出的光。

    应用学科:

    机械工程(一级学科);光学仪器(二级学科);光学仪器一般名词(三级学科) 本内容由全国科学技术名词审定委员会审定公布

    光通量测试仪

    光通量(luminous flux)指人眼所能感觉到的辐射功率,它等于单位时间内某一波段的辐射能量和该波段的相对视见率的乘积。由于人眼对不同波长光的相对视见率不同,所以不同波长光的辐射功率相等时,其光通量并不相等。

    目录

    编辑本段物理名词

    例如,当波长为555×10-9米的绿光与波长为650×10-9米的红光辐射功率相等时,前者的光通量为后者的10倍。

    当P(X)以瓦为单位时,Y(X)的单位为光瓦.只有当X=555nm时,1瓦光辐射功率产生1 lm(流明)的光通量

    篇三:LED光通量看法

    各位研究、生产、销售的使用SMD的同行朋友们:

    近期,本人在评估SMD 3528时,对3528 SMD白光灯珠的性能评估问题有所思考,做如下总结和提问,欢迎各位交流,以资共同进步!

    一、如何评价3528 白光SMD的亮度?

    我们口述的“亮度”实际上指的是发光强度(MCD)或光通量(LM)。

    对于3528,一般以mcd面对市场,而应用市场采购原则一般会了解到底是4-5LM,还是5-6LM,或是6LM以上等。

    MCD和LM在理论上没有直接的换算关系,这是因为MCD是和角度有关系的。那么,我们把草帽白光LED和SMD归为120度发光角度。则,MCD和LM是应该存在经验换算值的。

    例如:有厂家宣称:

    1600-1800mcd 是5.5LM 左右。

    2000MCD以上是6LM以上。诸如此类。

    在此,希望各位可以互通信息和意见,回答如下问题,再统计数据,具有一定的参考价值。

    问题是:

    以您的行业经验或实测效果,认为:

    1600-1800MCD 等价于多少LM?

    1800-2000MCD 等价于多少LM?

    2000-2500MCD 等价于多少LM?

    反之,5LM/6LM/7LM,分别对应大概是多少MCD?

    二、如何测试3528 白光SMD的光通量和其他光色电参数?

    由于SMD测试设备和传统的LAMP和HIPOWER均有差异,因此测试方法可能存在一些差异。

    目前,评估光通量的简单方法是:在贴片边分别焊接引脚,后放置于积分球测试参数;或放置于LAMP的光强分布测试仪测试MCD。 问题是:这种方法是否科学?是否有更科学或准确的测试方法?

    SMD经过测试,我发现数家SMD的标称值和我采用远方PMS-80测试的数据存在较大的差异,尤其是色温的差异最为明显。例如,供货商提供6000-6500K色温的3528SMD,我测试出来的数据只有5500-5700K。目前,我已将我这边实测6000-6500K色温的SMD委托SMD厂代为测试。

    问题是:SMD厂声称工厂是采用什么“套筒”测试,似乎方法和我们常规的积分球测试方法不一样?需要讨论的是,为何会存在达500K甚至以上的色温差异?希望SMD工程师和LED应用厂商可以配合讨论此问题。

    三、如何评估3528 白光SMD的可靠性?

    对于LED应用厂商来说,测试评估灯珠性能是非常有必要的,但是需要很长的时间。恰恰许多时候需要简单的方法检验出产品的可靠性。比如LED的加速老化测试就是这个道理,很多厂商加大电流,看哪一家的灯先死,就排除哪一家。

    这种土办法似乎显得愚蠢,但仍不失为一种好办法。

    我举一个例子:

    我司一个工程师手工做样品时手工焊接SMD,在同样条件下:

    (1)亿光的300PCS只死掉1PCS,且是因人为;(2)深圳某厂A的300PCS死掉2-3PCS;(3)深圳某厂B的300PCS死掉6-10PCS..... 目前,我办公室点的是我司研发的无眩光LED日光灯,B厂的已出现部分坏死现象。我曾和厂商沟通,得知B厂采用的是圆片。我想,很显然,在品质方面就暴露无遗。

    我日前为测试方便,手动焊接某厂C的SMD,焊接3PCS,均壮烈牺牲。个人分析,受烙铁热量而死,无非是虚焊或胶水性能极差有关。

    业内人士曾报料,亿光部分产品也是采用圆片,但是性能依然是非常好,原因只有一个,亿光采用了进口的胶水。

    问题是:

    各位对评估SMD的可靠性有什么良策?包括高温高湿,冲击试验等,均可以发表见解。

    同行朋友LESSON TWO的意见:

    一、如何评价LED的亮度?

    这个问题,太复杂了,也是争议最多的!

    A:测试机台不同、测试手法不同,测试结果肯定也不一样。

    B:即使是同一厂商的不同型号之测试设备,测试结果也会有差别。

    C:因此,正确的测试手法、同一测试机台、同一测试条件下,方可对比出LED的亮度及其它参数。

    二、如何测试LED的光通量和其他光色电参数?

    关于光电参数测试,见第一个问题.

    以下仅谈论关于色温差异的问题(很多客户的困惑):为何正白光LED按500K,甚至300K来分BIN了,一致性还是非常差?

    A:个人认为:色温只是衡量白光色调的一个尺度! 它是一个主观(因人而异)的量.

    B:我们看同一批白光LED的一致性,并不是靠色温差异范围来判断,而是看色品坐标值差异范围来判断。

    C:在制定分色分光的程式时,基本上是对X、Y轴进行线性切割的,但等温线在色品坐标中并不是均匀地线性分布的,

    D:所以,即使色温全部落在6000-6500K这个范围内的一批成品,其色差(X、Y值差别)仍可能会很严重。如果是精确地按XY值分好BIN的成品,或许其色温会有较大差别,但它的一致性可能还是会非常好。

    E:按照我们的经验,如果是精确地按XY值分BIN,即使是白光LED的色温相差500-1000K(当然是指正白啦), 成品的一致性还是可以的!

    F:CREE XP-E/XP-C的分BIN方式(6350K-7000K-8300K)见附件图片.

    二、如何评估LED的可靠性?

    A:常温老化已经没有太多的意义。

    B:高温老化(85℃恒温老化,这个测试更加能看出产品的差异)。

    C:冷热冲击(-30±5℃ 5min/100±5℃ 5min/100 Cycles)。

    D:冷热循环(-40±5℃ 30min/Room Temp. 5min/100±5℃ 30min/ 100 Cycles)。 E:回流焊测试(温度以260℃为准)。


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